2013年7月18日晚，第20屆IEEE國際集成電路物理與失效分析會議(IPFA 2013)在蘇州金河國際酒店舉行盛大的Dinner&Dinner Show，華碧檢測CEO劉學(xué)森先生出席晚宴并做主題致辭，向現(xiàn)場嘉賓大展失效分析宏圖，并分享了華碧在失效分析領(lǐng)域的探索成果。
華碧在近年來的發(fā)展中，一直定位于以失效分析為基礎(chǔ)，深入診斷問題產(chǎn)品的質(zhì)量與工藝、設(shè)計(jì)與缺陷，進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量檢測、產(chǎn)品失效定位、工藝失效分析，以及可靠性設(shè)計(jì)等，為客戶的產(chǎn)品改善提供準(zhǔn)確的分析報(bào)告與改善建議，幫助客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量與市場競爭力。華碧的一體化解決方案模式，贏得了客戶的肯定，也為失效分析技術(shù)的商業(yè)應(yīng)用找到了更廣闊的前景。劉學(xué)森在致辭中呼吁：失效分析對全社會的整個(gè)工業(yè)和工藝水平都意義深遠(yuǎn)！號召業(yè)界伙伴攜手共創(chuàng)新的行業(yè)高度！
晚宴在頗具夏威夷風(fēng)情的酒會氛圍中進(jìn)行，來自中國、美國、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國專家和業(yè)界代表120余人出席了本次Dinner Show，并進(jìn)行了輕松愉快、深入友好的交流。
華碧檢測CEO劉學(xué)森先生在IPFA2013 Dinner Show致辭
來自新加坡IPFA總部的Dr. JM Chin, AMD（左）與華碧檢測CEO劉學(xué)森先生（右）親切合影
輕松的酒會，愉快的相聚
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